Задачи

   Основные задачи, решаемые при помощи спектрометра Escalab 250Xi:

1. Стандартный анализ больших площадей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией (РФЭС). Запись обзорных спектров и детальный анализ остовных уровней отдельных элементов. Энергетическое разрешение менее 0.4 эВ.

2. РФЭС изображения с пространственным разрешением до 3 мкм. РФЭС малых областей при использовании микрофокусного рентгеновского источника (размер пятна рентгеновского излучения до 120 мкм, размер исследуемой области до 20 мкм).

3. Профилирование по глубине с использованием ионной пушки и измерения РФЭС с угловым разрешением для исследования элементного и химического состава образца в зависимости от глубины.

4. Измерение ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопией (УФЭС) при использовании He I (21.2 эВ) и He II (40.8 эВ) линий ультрафиолетового источника. Другие энергии фотонов возможны при использовании других инертных газов. Измерение работы выхода образца.

5. Анализ элементного состава и структуры верхнего атомного слоя поверхности с использованием спектроскопии рассеяния ионов низких энергий. Изотопный анализ.

6. Изображение поверхности с использованием сканирующей электронной микроскопии с пространственным разрешением от 0.1 до 3 мкм. Измерение Оже-спектров c пространственным разрешением, растровых Оже-карт распределения исследуемых элементов по поверхности образца.

7. Исследование характеристических потерь энергий электронов для определения энергии прямых межзонных переходов, поверхностных плазмонных колебаний и плотности свободных состояний.     

8. Исследование монокристаллической структуры образца на поверхности с использованием метода дифракции медленных электронов.

   Основные задачи, решаемые при помощи аналитического модуля фотоэлектронной спектроскопии научно-исследовательской платформы Нанолаб:

1. Исследования электронной энергетической структуры остовных уровней и валентной зоны с использованием монохроматизированных источников излучения. Запись фотоэлектронных спектров с угловым и спиновым разрешением. Исследование дисперсионных зависимостей электронных состояний в заданном направлении зоны Бриллюэна. Построение изображений поверхности Ферми.

2. Рост низкоразмерных систем, в том числе с использованием эффузионных ячеек и электронно-лучевых испарителей.

3. Исследование монокристаллической структуры образца на поверхности с использованием метода дифракции медленных электронов. Определение симметрии и элементарной ячейки. Измерение Оже-спектров.

   Основные задачи, решаемые при помощи аналитического модуля зондовой микроскопии научно-исследовательской платформы Нанолаб:

1. Исследование поверхности методами сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии с атомным разрешением в сверхвысоковакуумных условиях. Исследование морфологии поверхности образца. Определение нормальных и латеральных сил.

2. Исследование поверхности методом сканирующей туннельной спектроскопии в сверхвысоковакуумных условиях. Определение работы выхода, локальной плотности состояний и запрещенной зоны.

3. Рост низкоразмерных систем, в том числе с использованием эффузионных ячеек и электронно-лучевых испарителей.

4. Исследование монокристаллической структуры образца на поверхности с использованием метода дифракции медленных электронов. Определение симметрии и элементарной ячейки. Измерение Оже-спектров.