• Главная
  • Оборудование
  • RU
  • Аналитический модуль зондовой микроскопии научно-исследовательской платформы Нанолаб

Аналитический модуль зондовой микроскопии научно-исследовательской платформы Нанолаб

Включает:

- сверхвысоковакуумную камеру со сканирующим зондовым микроскопом Omicron VT AFM XA 50/500, позволяющим исследовать структуру поверхности с атомарным разрешением в широком диапазоне температур;

- сверхвысоковакуумную камеру для подготовки образцов с оборудованием для нанесения тонких пленок и контроля их параметров методами дифракции медленных электронов и оже-спектроскопии.

Сканирующий зондовый микроскоп  Omicron VT AFM  XA 50/500  Преимущества модуля зондовой микроскопии:

- сканирование поверхности образцов с атомным разрешением в условиях сверхвысокого вакуума (1-2•10-10 мбар),

- сканирование при температурах образца в диапазоне от 50 до 500 К,

- режимы сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа (контактный и бесконтактный режимы),

- возможность осаждения различных веществ на поверхность образца в процессе эксперимента при нахождении образца на столике микроскопа

- возможность приготовления вольфрамовых игл “in situ” методом электронной бомбардировки,

- формирование образцов “in situ” методами локальной молекулярной и атомной эпитаксии с контролем толщины слоев до долей монослоя, молекулярного наслаивания и химической сборки.

 

Дополнительно:

Год выпуска: 2012

Техническое описание (приложения A,B,C по запросу)

ссылка на сайт производителя Omicron NanoTechnology GmbH

Печать Поделиться